植物冠層分析儀/植物光譜儀/冠層分析儀 型號(hào):DP-2000
操作原理:
何物質(zhì)都具有發(fā)射、吸收及反射電磁波的特性,這是光譜信息檢測(cè)的基本原理。通過測(cè)量每波長輻射的吸收、發(fā)送或反射,物質(zhì)的特性就能被確定。在實(shí)際應(yīng)用時(shí),僅需要選擇某些特定波段來識(shí)別被選定物質(zhì)的特性。利用窄帶過濾器來選擇可見光和近紅外(NIR) 區(qū)電磁波譜的某些波段。此波段區(qū)域可以用于量化各種脅迫導(dǎo)致的植物冠層發(fā)射率差異。750-900納米的近紅外波段對(duì)探測(cè)和評(píng)估植物葉片病害的嚴(yán)重性十分有用。近紅外區(qū)的長波波段可以用于估計(jì)植物的生物化學(xué)成份。
采用可見/近紅外光反射光譜和多通道光譜信息掃描,可快速測(cè)定植被表面參數(shù)、植物冠層信息、植物養(yǎng)分信息、土壤養(yǎng)分信息、環(huán)境參數(shù)、植物病蟲害程度等。
儀器為8通道通用光譜檢測(cè)分析儀,zui大可支持16通道不同波段的通用光譜信息采集儀器,用戶可以根據(jù)實(shí)際須要定制不同波段的濾光片行光譜檢測(cè)。
儀器自帶8個(gè)波段的濾光片,主要中心波段為:550nm,600nm,650nm,730nm, 940nm,1100nm,1250nm,1550nm.
內(nèi)置傳感器自動(dòng)校正模塊。
植物冠層分析儀DP-2000應(yīng)用范圍:
*描述:
-植物正常生長
-植物冠層顔色
-植物生長環(huán)境
*評(píng)估:
-作物生物量
-生物化學(xué)含量
-作物產(chǎn)量組成
-作物質(zhì)量因子
-葉面積數(shù)
-由于病蟲害、空氣污染、養(yǎng)分不足和化學(xué)植物毒素等成的作物產(chǎn)量損失與降低
*植物生長調(diào)節(jié)劑的評(píng)估
*客觀有效地對(duì)各種葉片病害的評(píng)級(jí)
*監(jiān)測(cè)應(yīng)用除草劑的效果
*用于土壤改善和肥力的研究
*葉面施肥的研究
*灌溉日程安排的研究
*干旱對(duì)植物生長和產(chǎn)量的影響
*不同基因型的特性
*試驗(yàn)地變異的評(píng)估
植物冠層分析儀DP-2000特點(diǎn):
輻射計(jì)方向360度可調(diào),可以自動(dòng)校準(zhǔn)太陽方向角對(duì)測(cè)量成的影響
儀器矮可調(diào)節(jié)
能夠在少云的情況下使用
8個(gè)波段與Lsat衛(wèi)星熱波譜圖的前8條波段相似
重量輕、便于攜帶
可以用于無人值守的操作
大屏幕中文液晶顯示
手持機(jī)可存儲(chǔ),通過按鍵存儲(chǔ)
帶計(jì)算機(jī)接口,可以將數(shù)據(jù)導(dǎo)入計(jì)算機(jī),以便分析之用
標(biāo):
現(xiàn)在已定標(biāo)的有:
A、歸化植被數(shù)NDVI、SA-NDVI,WDR-NDVI,RVI
B、光化學(xué)反射系數(shù)PRI
C、葉面積數(shù)(LAI)
D、冠層林隙比例(GAP SIZE)
E、植物冠層吸收的光合有效輻射分量(FPAR)
波段:8個(gè)
中心波長: 550nm,600nm,650nm,730nm, 940nm,1100nm,1250nm,1550nm
操作范圍:0到+50℃,0到相對(duì)濕度不凝結(jié),<20%的相對(duì)濕度下貯藏
反射率區(qū)間:0到
分辨率:0.06%
確度:+/-4%
檢波器:發(fā)光二管
尺寸:100×100×80mm
存儲(chǔ)數(shù)據(jù):1000組
響應(yīng)時(shí)間:2秒
重量:1kg
植物冠層分析儀配置:
該系統(tǒng)包括輻射計(jì)、數(shù)據(jù)記錄器(手持表)、伸長桿 (可伸長到3.5米)、 AC適配器及充電器、軟件光盤、數(shù)據(jù)連接線、使用手冊(cè)
植物冠層分析儀操作方法:
在田間,通過支持架(桿)將輻射計(jì)保持在作物冠層上面的水平位置。田間的觀測(cè)直徑是反射計(jì)于冠層的度的半。系統(tǒng)內(nèi)置的數(shù)據(jù)獲取程序便于對(duì)電壓數(shù)字化和記錄每選擇波長的反射百分?jǐn)?shù)。該程序同時(shí)允許對(duì)多個(gè)樣本取平均值。各種輔助數(shù)據(jù),如時(shí)間、入射輻射水平和輻射計(jì)內(nèi)的溫度,均可在每次掃描時(shí)記錄下來。
通過手動(dòng)開關(guān)或按手持機(jī)觸發(fā)的次掃描只需約2秒鐘。各種操作過程均有屏幕提示。
輻射計(jì)允許幾乎同時(shí)輸入代表入射輻射和反射輻射的電壓值。這特性允許在非理想的太陽角度和光照條件下確測(cè)量作物冠層的反射率。在多云條件下,利用系統(tǒng)校準(zhǔn)程序行環(huán)境校準(zhǔn),仍然可以獲得有用的反射率觀測(cè)值。